●特集
「検査技術」

　　検査の目的は、まず工程内で不良を作らない、そして不良品を市場の外に出さないという
　ことにあります。それを実現させるために、様々な検査装置や検査技術があり、それを活か
　した検査システムの構築がなされています。
　　本特集では、そのような検査技術のトレンドをご紹介します。

　■高度なＩＣパッケージのために開発された３Ｄ検査ソリューション
　　『Ｍｅｉｓｔｅｒ』シリーズ
　　　ジャパンコーヨン株式会社

　■製品のライフサイクル全体にコスト削減をもたらすＪＴＡＧテストの活用方法
　　　アンドールシステムサポート株式会社／谷口　正純 氏


●トレンドを探る
　■法律・規格を作る、そして見直す
　　～規格制定と運用のはざまをどうつなげるか～
　　　小林　正 氏

　■電子精密機器＆電子部品専門特化ＩＴ倉庫
　　～倉庫で付加価値創出ができる、日通ＮＥＣロジスティクス香港～
　　　Grand Joint Technology Ltd / 大西　哲也

　■この１年の半導体市場の動き（その２）
　　　長見　晃 氏


●好評連載
　■前田真一の最新実装技術あれこれ塾
　　第１３１回　高損失基板


●コラム
　■「ちょっと途中下車」
　　３２８駅目　お雑煮／武井　豊氏


●展示会レポート
　■第４回 実装組立プロセス技術展２０２１


●Ｐｒｏｄｕｃｔｓ　Ｇｕｉｄｅ
　■株式会社村田製作所／「パワーインダクタ」
　■株式会社マックエイト／「高電流（１００Ａ）用ジャンパ」
　■ツクモ光学株式会社／「ナノ表面粗さ／形状計測器」、他


●その他
　■展示会・イベント案内
　■ＤＫＮリサーチのプリント配線板データシート
　■Ｒｅａｄｅｒ’ｓ　Ｓｑｕａｒｅ
　■編集室から