●特集
「検査技術」

　　検査の目的は、まず工程内で不良を作らない、そして不良品を市場の外に
　出さないということにあります。それを実現させるために、様々な検査装置
　があり、それを活かした検査システムの構築がなされています。
　　本特集では、そのような検査技術の活用／応用事例をご紹介します。

　■車載マイコンの小型化に応えるＪＴＡＧバウンダリスキャンテストの活用事例
　　アンドールシステムサポート株式会社　／　谷口　正純 氏

　■革新・Ｒｅｘｘａｍが贈る技術と現場の知恵
　『基板外観検査技術の応用事例』のご紹介
　　株式会社レクザム


●トレンドを探る
　■制御盤配線のイノベーション
　　タクミ商事株式会社

　■この１年の半導体の動き（その２）
　　長見　晃 氏


●特別レポート
　■第３６回 長野実装フォーラム
　　～傳田精一先生追悼記念フォーラム～
　　日本半導体、新時代を巡る対応
　　長野実装フォーラム　／　理事　千野　満 氏、大西　哲也 氏、手塚　佳夫 氏、
　　　　　　　　　　　　　　若林　信一 氏


●好評連載
　■前田真一の最新実装技術あれこれ塾
　　第１６７回　ＬＳＩの微細化とは


●コラム
　■「ちょっと途中下車」
　　３６４駅目　２回楽しめる食材で保存食になるのは？　／　武井　豊 氏


●Products Guide
　■ユニバーサルビジョンセンサ、他


■展示会・イベント案内
■ＤＫＮリサーチのプリント配線板データシート
■編集室から

◎ 特集
『プリント配線板技術』（仮）
沼倉 研史
青木 正光

■トレンドを探る
河合 一男

■ 連載
前田真一の最新実装技術あれこれ塾 　
他